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每日简报

每日知识 ·

曲面超声测厚与探头尺寸

小直径管测厚,探头为什么不能只求大?

结论与适用范围

NB/T 47013.3—2023第8.3.3.2 c项规定,曲面工件测厚应选择晶片尺寸较小的探头。该项位于用于超声检测仪的探头选择条件中;数字式测厚仪探头与仪器配套固定使用。晶片尺寸不等于外壳直径,也不等于接触面尺寸。选型须核仪器、频率、厚度范围、温度及表面条件。

为什么

直圆管沿轴向的母线为直线,周向具有曲率。平面接触面与圆顶相切时,越向边缘越离开圆面。令外半径R、周向跨度w、边缘间隙h,则h=R−√[R²−(w/2)²],0<w<2R。当w远小于R,h≈w²/(8R)。
教学几何计算:R=25 mm,w=6 mm时h≈0.181 mm,w=12 mm时h≈0.731 mm。w=10 mm,R=15、25、50、100 mm,h≈0.858、0.505、0.251、0.125 mm。参数是假设,结果可由圆方程复算;不是标准允许间隙、实测耦合层厚度、声场结果或测厚修正值。不能从仪器读数直接减去h。

现场核查

  1. 核管径、材料、预期厚度、温度、损伤和探头参数;第8.3.3.1要求按仪器类型、厚度、表面状况等选择探头。
  2. 按第7.9.2处理浮锈、鳞皮、部分脱离涂膜,必要时适当修磨;不得为凑稳定数字任意磨薄工件。
  3. 完成仪器检查和适用校准,验证当前组合;观察接触稳定性及有效回波。第7.4.3说明A扫描显示可用于检查测量有效性。
  4. 找区域最小壁厚时,第8.3.2.2一般要求用超声检测仪扫查。较小探头不替代覆盖范围、异常点复核和定位记录,扫查间距由方案与验证确定。

常见误判与自测

  • 小外壳能证明小晶片吗?不能,须查参数。
  • 0.73 mm几何间隙能当厚度修正吗?不能,模型未包含声路及仪器处理。
  • 四点稳定能证明区域最薄处吗?不能,还要有效回波、扫查覆盖与最薄点定位。

来源

国家能源局;全国标准信息公共服务平台,2023-12-28发布,2024-06-28实施;2026-10-15核验现行:NB/T 47013.3—2023《承压设备无损检测 第3部分:超声检测》。第8.3.1—8.3.3条(印刷57页/PDF64页);第7.4—7.6条(印刷51页/PDF58页)、第7.9.2条(印刷52页/PDF59页)。技术内容核原页,官网核身份与现行状态。

配套图件

图1 圆柱外表面沿周向弯曲,沿轴向保持直线。a,圆管与两条观察方向;b,轴向剖面;c,周向剖面。灰色为管壁,蓝线标出所比较的外表面。仅解释直圆管外表面接触几何,不按真实壁厚比例。
图1 圆柱外表面沿周向弯曲,沿轴向保持直线。a,圆管与两条观察方向;b,轴向剖面;c,周向剖面。灰色为管壁,蓝线标出所比较的外表面。仅解释直圆管外表面接触几何,不按真实壁厚比例。
图2 同一曲率下,平面接触跨度增大,边缘间隙增加。上图为几何模型,平面在圆顶相切;下图为R=25 mm时的计算曲线,跨度6 mm和12 mm对应约0.18 mm和0.73 mm。跨度w为接触面几何参数,不是晶片直径或允许值;间隙不是测厚误差。
图2 同一曲率下,平面接触跨度增大,边缘间隙增加。上图为几何模型,平面在圆顶相切;下图为R=25 mm时的计算曲线,跨度6 mm和12 mm对应约0.18 mm和0.73 mm。跨度w为接触面几何参数,不是晶片直径或允许值;间隙不是测厚误差。
图3 相同接触跨度下,较小曲率半径带来较大边缘间隙。按同一相切模型计算,w=10 mm,R为15、25、50、100 mm时,h约为0.858、0.505、0.251、0.125 mm。四个点均为教学几何计算,不能用作探头选型合格线。
图3 相同接触跨度下,较小曲率半径带来较大边缘间隙。按同一相切模型计算,w=10 mm,R为15、25、50、100 mm时,h约为0.858、0.505、0.251、0.125 mm。四个点均为教学几何计算,不能用作探头选型合格线。
图4 较小探头仍须对应要测的实际部位。上、下图为同一管壁局部减薄带与不同中心距的扫查轨迹,稀疏轨迹可能从旁边经过,较密轨迹才经过图示部位。蓝线为轨迹,橙色为减薄带;位置与间距为示意,不规定扫查间距或检出率。
图4 较小探头仍须对应要测的实际部位。上、下图为同一管壁局部减薄带与不同中心距的扫查轨迹,稀疏轨迹可能从旁边经过,较密轨迹才经过图示部位。蓝线为轨迹,橙色为减薄带;位置与间距为示意,不规定扫查间距或检出率。

原文来源